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产品描述
美国Polyk Technologies公司研发了高电场下的低温频谱介电测量系统,更好的解决了非线性介电响应问题。
非线性介电响应: -当通过LCR Meter或者分析仪(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)测量介电常数时,加载电压通常1V左右;然而,很多压电陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)对于加载的电场具有非线性响应;通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。
-在很多应用中,例如电容器和驱动器,介电层>10V/um或者100V/um的高电场下工作,它们的有效介电常数和损耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析仪的测量值@1Vrms。
-在介电测试过程中直接加载一个高压信号,如果样品突然发生介电击穿,这对于昂贵的LCR Meter有很大的损坏风险。
因此美国Polyk Technologies公司研发了此款宽频谱介电测量系统,有效的避免了上述问题的发生。
技术规格:1)**电压:±4000V;
2)**电流:±20mA;
3)频率范围:100Hz to 1MHz;
4)电容范围:100pF to 100nF;
5)温度范围:-184℃ to 250℃;
6)温度控制腔室:-75℃ to 200℃,无需液氮;(可选)
7)温度控制腔室:室温 to 1000℃;(可选)
8)宽频范围:20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(与配备的阻抗分析仪相关);(可选)
9)Large AC信号单元;(可选)
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